蛍光X線分析の実際

著者

• 中井, 泉 ナカイ, イズミ
• 日本分析化学会X線分析研究懇談会 ニホン ブンセキ カガクカイ Xセン ブンセキ ケンキュウ コンダンカイ

書誌事項

蛍光X線分析の実際

中井泉編集

朝倉書店, 2005.10

タイトル読み

ケイコウ Xセン ブンセキ ノ ジッサイ

注記

監修: 日本分析化学会X線分析研究懇談会

参考文献あり

内容説明・目次

目次

• 蛍光Ｘ線分析の基礎
• 蛍光Ｘ線スペクトル
• 蛍光Ｘ線分析装置
• よりよいスペクトルを測定するためのテクニック
• 試料調製法
• 定量分析
• 標準物質
• 全反射蛍光Ｘ線分析
• Ｘ線顕微鏡
• ＳＥＭ‐ＥＤＳ
• めっき・薄膜の分析
• 超薄膜の分析
• 蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集
• 放射光利用
• 分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
• 法令と届出（蛍光Ｘ線分析装置の場合）

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BA73986792
• ISBN:
  • 9784254140729
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: ix, 242p, 図版[2]枚
• 大きさ: 26cm
• 分類:
  • NDC8 : 433.5
  • NDC9 : 433.57
• 件名:
  • BSH : エックス線分光分析