Semiconductor material and device characterization

著者

• Schroder, Dieter K.

書誌事項

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder

IEEE Press , Wiley-Interscience, c2006

3rd ed

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• Semiconductor material and device characterization

  c2006.

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注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA76086798
• ISBN:
  • 9780471739067
• LCCN: 2005048514
• 出版国コード: xx
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [S.l.],Hoboken, N.J.
• ページ数/冊数: xv, 779 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC611
  • DC21 : 621.3815/2
  • NDLC : MC151
• 件名:
  • LCSH : Semiconductors
  • LCSH : Semiconductors -- Testing