失敗から学ぶ電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための

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Bibliographic Information

失敗から学ぶ電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための

朝倉健太郎, 平坂雅男, 為我井晴子共編

アグネ承風社, 2006.5

Other Title

電子顕微鏡試料作製技法Q&A : 失敗から学ぶ : 電子顕微鏡研究者のための

Title Transcription

シッパイ カラ マナブ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ギホウ Q&A : デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメノ

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Description and Table of Contents

Table of Contents

  • 基礎
  • 試料取り扱い
  • 前処理
  • 支持膜・レプリカ
  • ウルトラミクロトーム（ＵＭＴ）
  • 電解研磨
  • イオンミリング
  • ＦＩＢ（集束イオンビーム装置）
  • 観察
  • 分析
  • 解析
  • 付録

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Details

  • NCID
    BA77218089
  • ISBN
    • 4900508756
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    vii, 247p
  • Size
    26cm
  • Classification
  • Subject Headings
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