Pattern recognition : 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006 : proceedings

著者

• DAGM Symposium
• Franke, Katrin
• Müller, Klaus-Robert
• Nickolay, Bertram
• Schäfer, Ralf

書誌事項

Pattern recognition : 28th DAGM Symposium, Berlin, Germany, September 12-14, 2006 : proceedings

Katrin Franke ... [et al.] (eds.)

（Lecture notes in computer science, 4174）

Springer, c2006

注記

Other editors: Klaus-Robert Müller, Bertram Nickolay, Ralf Schäfer

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA78591543
• ISBN:
  • 3540444122
• LCCN: 2006932037
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin
• ページ数/冊数: xx, 773 p.
• 大きさ: 24 cm
• 親書誌ID:
  • BA00009279