Proceedings : 15th Asian Test Symposium : Fukuoka, Japan, November 20-23, 2006

書誌事項

Proceedings : 15th Asian Test Symposium : Fukuoka, Japan, November 20-23, 2006

IEEE Computer Society, c2006

タイトル別名

ATS 2006

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注記

IEEE Computer Society Order Number P2628

"IEEE Computer Society Test Technology Council"--Cover

Includes bibliographical references

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BA81900555
  • ISBN
    • 9780769526287
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Los Alamitos, Calif.
  • ページ数/冊数
    xxiii, 451 p.
  • 大きさ
    28 cm
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