システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

Author(s)

• 藤原, 秀雄 フジワラ, ヒデオ

Bibliographic Information

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

研究代表者藤原秀雄

（科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書, 平成15-18年度）

[奈良先端科学技術大学院大学], 2007.3

Other Title

平成15年度-平成18年度科学研究費補助金基盤研究(B)研究成果報告書

Title Transcription

システムオンチップ ノ テスト アーキテクチャ ト テスト ヨウイカ セッケイ ニカンスル キソ ケンキュウ

Note

課題番号:15300018

Details

• NCID: BA82291496
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: engjpn
• Place of Publication: [生駒]
• Pages/Volumes: 175p
• Size: 30cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA31388455