システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

著者

• 藤原, 秀雄 フジワラ, ヒデオ

書誌事項

システムオンチップのテストアーキテクチャとテスト容易化設計に関する基礎研究

研究代表者藤原秀雄

（科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書, 平成15-18年度）

[奈良先端科学技術大学院大学], 2007.3

タイトル別名

平成15年度-平成18年度科学研究費補助金基盤研究(B)研究成果報告書

タイトル読み

システムオンチップ ノ テスト アーキテクチャ ト テスト ヨウイカ セッケイ ニカンスル キソ ケンキュウ

注記

課題番号:15300018

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA82291496
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: engjpn
• 出版地: [生駒]
• ページ数/冊数: 175p
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA31388455