欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化

著者

• 橋詰, 保 ハシズメ, タモツ

書誌事項

欠陥制御・界面制御に基づく窒化ガリウム系デバイス構造の高信頼化

研究代表者 橋詰保

（科学研究費補助金(基盤研究(B))研究成果報告書, 平成17年度〜平成18年度）

[北海道大学量子集積エレクトロニクス研究センター], 2007.4

タイトル読み

ケッカン セイギョ カイメン セイギョ ニモトズク チッカ ガリウムケイ デバイス コウゾウ ノ コウシンライカ

注記

課題番号: 17360133

片面印刷

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA83084635
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [札幌]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm
• 親書誌ID:
  • BA31388455