組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

著者

• 小林, 大輔 (半導体工学) コバヤシ, ダイスケ

書誌事項

組み合わせ論理回路のソフトエラー評価を可能とするLSIテスト技術

研究代表者 小林大輔

（科学研究費補助金(基盤研究C)研究成果報告書, 平成18年度-平成19年度）

[小林大輔], 2008.3

タイトル読み

クミアワセ ロンリ カイロ ノ ソフトエラー ヒョウカ オ カノウトスル LSI テスト ギジュツ

注記

課題番号18560359

研究分担者:廣瀬和之、斎藤宏文

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA85996239
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: engjpn
• 出版地: [相模原]
• ページ数/冊数: 77 p.
• 大きさ: 30 cm
• 親書誌ID:
  • BA30764121