電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

Author(s)

• 富取, 正彦 トミトリ, マサヒコ

Bibliographic Information

電圧印加非接触原子間力顕微鏡法/分光法による機能ナノ構造界面の電子物性計測

研究代表者 富取正彦

（科学研究費補助金(基盤研究A)研究成果報告書, 平成17-19年度）

[富取正彦], 2008.5

Title Transcription

デンアツ インカ ヒセッショク ゲンシカンリョク ケンビキョウホウ ブンコウホウ ニ ヨル キノウ ナノコウゾウ カイメン ノ デンシ ブッセイ ケイソク

Note

研究課題番号:17206005

• NCID: BA88014240
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpneng
• Place of Publication: [能美]
• Pages/Volumes: 71p
• Size: 30cm
• Parent Bibliography ID:
  • BA31816366