電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化

Author(s)

• 田中, 信夫 タナカ, ノブオ

Bibliographic Information

電子線ナノイメージング : 高分解能TEMとSTEMによる可視化

田中信夫著

（材料学シリーズ / 堂山昌男, 小川恵一, 北田正弘監修）

内田老鶴圃, 2009.4

Title Transcription

デンシセン ナノ イメージング : コウブンカイノウ TEM ト STEM ニヨル カシカ

Note

文献: 章末

Description and Table of Contents

Table of Contents

• 第１部　ナノの世界と透過電子顕微鏡法（ナノの世界を見る；透過電子顕微鏡の構造と結像；透過電子顕微鏡の分解能と像コントラスト　ほか）
• 第２部　原子直視を可能とする走査透過電子顕微鏡法（走査透過電子顕微鏡法とは何か；走査透過電子顕微鏡の結像；走査透過電子顕微鏡法の応用例　ほか）
• 補遺（フーリエ変換入門—イメージングの数学的基礎；凸レンズによる結像作用—凸レンズは位相変調器；電子顕微鏡のレンズ伝達関数—位相コントラストを理解する鍵　ほか）

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• NCID: BA89759359
• ISBN:
  • 9784753656363
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: x, 247p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 549.97
  • NDC9 : 549.97
• Subject Headings:
  • BSH : 電子顕微鏡
  • BSH : ナノテクノロジー
• Parent Bibliography ID:
  • BN13324146