Proceedings : 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : VTS 2009 : 3-7 May 2009, Santa Cruz, CA, USA

著者

• IEEE VLSI Test Symposium

書誌事項

Proceedings : 2009 27th IEEE VLSI Test Symposium : VTS 2009 : 3-7 May 2009, Santa Cruz, CA, USA

IEEE Computer Society, c2009

注記

"IEEE Computer Society Order Number P3598" -- T.p. verso

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA90824571
• ISBN:
  • 9780769535982
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Los Alamitos, Calif.
• ページ数/冊数: xxvii, 341 p.
• 大きさ: 28 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing -- Congresses