2009 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Santa Cruz, California, USA, 03-07 May 2009

著者

• IEEE VLSI Test Symposium

書誌事項

2009 IEEE VLSI Test Symposium (VTS), Santa Cruz, California, USA, 03-07 May 2009

IEEE, c2009

タイトル別名

CFP09029-PRT

注記

"IEEE Catalog Number: CFP09029-PRT"

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA91448307
• ISBN:
  • 9781424437696
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 308 p.
• 大きさ: 28 cm