2010 28th VLSI Test Symposium (VTS2010), Santa Cruz, California, USA, 19-22 April 2010

著者

書誌事項

2010 28th VLSI Test Symposium (VTS2010), Santa Cruz, California, USA, 19-22 April 2010

IEEE, c2010

タイトル別名

2010 28th IEEE VLSI Test Symposium : VTS2010

CFP10029-PRT

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注記

"IEEE Catalog Number: CFP10029-PRT"

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB0315646X
  • ISBN
    • 9781424466498
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • ページ数/冊数
    xxvii, 358 p.
  • 大きさ
    28 cm
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