Possible reliability problems affecting use of TOEIC IP Test scores

著者

• Bresnihan, Brian D.

書誌事項

Possible reliability problems affecting use of TOEIC IP Test scores

Brian D. Bresnihan

（兵庫県立大学政策科学研究叢書, v. 83）

Institute for Policy Analysis and Social Innovation, University of Hyogo, 2010

注記

"University of Hyogo Monograph Vol. LXXXII"--T.p. verso

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB0382858X
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Kobe
• ページ数/冊数: 329 p.
• 大きさ: 21 cm
• 分類:
  • NDC8 : 802
  • NDLC : KE41
• 親書誌ID:
  • BB0368472X