Soft errors in modern electronic systems

著者

• Nicolaidis, Michael

書誌事項

Soft errors in modern electronic systems

Michael Nicolaidis, editor

（Frontiers in electronic testing, v. 41）

Springer, c2011

• cased

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB04288364
• ISBN:
  • 9781441969927
• LCCN: 2010933852
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xviii, 316 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • DC22 : 621.395
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration
  • LCSH : Electronic apparatus and appliances -- Effect of radiation on
  • LCSH : Software failures
• 親書誌ID:
  • BA19587827