Characterization of organic thin films

著者

書誌事項

Characterization of organic thin films

[Abraham Ulman] ; editors, Yale Strausser and Gray E. McGuire

(Materials characterization series : surfaces, interfaces, thin films / series editors, C. Richard Brundle, Charles A. Evans, Jr.)

Momentum Press, c2010

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注記

"First published by Butterworth-Heinemann in 1995" -- T.p. verso

Includes bibliographical references and index

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB04790664
  • ISBN
    • 9781606500446
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    New York, N.Y.
  • ページ数/冊数
    xvii, 276 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 親書誌ID
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