書誌事項

LSI故障解析技術

二川清著

日科技連出版社, 2011.9

新版

タイトル読み

LSI コショウ カイセキ ギジュツ

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注記

「LSI故障解析技術のすべて」(工業調査会2007年刊)の改訂

参考文献: p181-187

巻末: 索引あり

内容説明・目次

内容説明

LSIの故障解析を実施する際や、故障解析技術を研究開発する際に必要な知識・経験は多岐にわたるが、本書の中心は故障解析技術そのものである。本書では、最新の技術を解説するとともに、広く用されている従来からの技術も紹介する。

目次

  • 第1章 LSIの故障とその特徴(故障解析に関連するLSIのトレンド;LSIの故障の特徴 ほか)
  • 第2章 LSI故障解析技術概論(基本の「き」;故障解析の手順 ほか)
  • 第3章 故障解析事例(DRAMのIR‐OBIRCHなどによる解析事例;ロジックLSI(システムLSI)の解析事例 ほか)
  • 第4章 新しい故障解析関連手法の開発動向(光を利用した故障解析技術発展の流れと最近の動向;OBIRCH関連手法発展の流れと最近の動向 ほか)

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB07426588
  • ISBN
    • 9784817194145
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    x, 194p, 図版 [8]p
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
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