はじめてのデバイス評価技術

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はじめてのデバイス評価技術

二川清著

森北出版, 2012.9

第2版

Title Transcription

ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ

Available at  / 66 libraries

Note

初版: 工業調査会, 2000年刊

参考文献・引用文献: p169-175

Description and Table of Contents

Description

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説！知りたい情報が詰まってる。

Table of Contents

  • 第１章　半導体デバイスの特徴
  • 第２章　デバイス評価技術概要
  • 第３章　信頼性試験
  • 第４章　故障解析
  • 第５章　寿命データ解析
  • 第６章　具体例・応用事例

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Details

  • NCID
    BB10206954
  • ISBN
    • 9784627774421
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    xi, 179p
  • Size
    22cm
  • Classification
  • Subject Headings
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