はじめてのデバイス評価技術
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はじめてのデバイス評価技術
森北出版, 2012.9
第2版
- タイトル読み
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ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
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注記
初版: 工業調査会, 2000年刊
参考文献・引用文献: p169-175
内容説明・目次
内容説明
半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説!知りたい情報が詰まってる。
目次
- 第1章 半導体デバイスの特徴
- 第2章 デバイス評価技術概要
- 第3章 信頼性試験
- 第4章 故障解析
- 第5章 寿命データ解析
- 第6章 具体例・応用事例
「BOOKデータベース」 より