はじめてのデバイス評価技術

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はじめてのデバイス評価技術

二川清著

森北出版, 2012.9

第2版

タイトル読み

ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ

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注記

初版: 工業調査会, 2000年刊

参考文献・引用文献: p169-175

内容説明・目次

内容説明

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説!知りたい情報が詰まってる。

目次

  • 第1章 半導体デバイスの特徴
  • 第2章 デバイス評価技術概要
  • 第3章 信頼性試験
  • 第4章 故障解析
  • 第5章 寿命データ解析
  • 第6章 具体例・応用事例

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB10206954
  • ISBN
    • 9784627774421
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    xi, 179p
  • 大きさ
    22cm
  • 分類
  • 件名
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