半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

Bibliographic Information

半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著

丸善プラネット, 2013.8

Title Transcription

ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ

Available at  / 44 libraries

Note

その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力

文献あり

Details

  • NCID
    BB13216182
  • ISBN
    • 9784863451728
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    viii, 344p
  • Size
    30 cm
  • Classification
  • Subject Headings
Page Top