半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

著者

• 荒井, 英輔 アライ, エイスケ
• 塩野, 登 シオノ, ノボル
• 岩根, 眼藏 イワネ, ガンゾウ

書誌事項

半導体部品の信頼性 : 高信頼化の歴史とフィールドデータ

荒井英輔, 塩野登編著 ; 岩根眼藏 [ほか] 著

丸善プラネット, 2013.8

タイトル読み

ハンドウタイ ブヒン ノ シンライセイ : コウシンライカ ノ レキシ ト フィールド データ

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• 半導体部品の信頼性 高信頼化の歴史とフィールドデータ

  2013.8.

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注記

その他の著者: 中野好典, 植木武美, 平岡一則, 小川清, 福田光男, 久慈憲夫, 水沢武, 嶋屋正一, 山口力

文献あり

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB13216182
• ISBN:
  • 9784863451728
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: viii, 344p
• 大きさ: 30 cm
• 分類:
  • NDC9 : 549.8
• 件名:
  • NDLSH : 半導体 -- 品質管理
  • BSH : 信頼性(工学)