X線結晶構造解析入門 : 強度測定からCIF投稿まで

著者

• 大場, 茂 オオバ, シゲル
• 植草, 秀裕 ウエクサ, ヒデヒロ

書誌事項

X線結晶構造解析入門 : 強度測定からCIF投稿まで

大場茂, 植草秀裕著

化学同人, 2014.9

タイトル別名

Introduction to X-ray crystal structure analysis

タイトル読み

Xセン ケッショウ コウゾウ カイセキ ニュウモン : キョウド ソクテイ カラ CIF トウコウ マデ

注記

参考図書: p197

内容説明・目次

目次

• １章　Ｘ線回折法の原理
• ２章　結晶構造の対称性
• ３章　構造モデルの導出および精密化
• ４章　単結晶育成と測定の用意
• ５章　Ｘ線回折強度の測定
• ６章　構造解析の実際の流れ
• ７章　構造解析の落とし穴
• ８章　ＣＩＦ
• ９章　トラブルシューティング
• １０章　ＳＨＥＬＸの使い方

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BB16675550
• ISBN:
  • 9784759815757
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 京都
• ページ数/冊数: vi, 208p
• 大きさ: 26cm
• 分類:
  • NDC9 : 433.57
  • NDC9 : 459.92
  • NDLC : MC145
  • NDLC : PA124
• 件名:
  • BSH : エックス線結晶学
  • NDLSH : エックス線結晶学
  • NDLSH : 結晶構造
  • NDLSH : エックス線回折