Microelectronic test patterns : an overview

著者

    • Buehler, Martin G.

書誌事項

Microelectronic test patterns : an overview

Martin G. Buehler

（NBS special publication, 400-6 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1974

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注記

References: p. 11

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  • NBS special publication

    Planning Office, National Bureau of Standards, U.S. Dept. of Commerce , For sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off

    426, Suppl. 1

    所蔵館1館

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