Microelectronic test pattern NBS-4

著者

• Thurber, W. Robert
• Buehler, Martin G.

書誌事項

Microelectronic test pattern NBS-4

W. Robert Thurber and Martin G. Buehler

（NBS special publication, 400-32 . Semiconductor measurement technology）

U.S. G.P.O., 1978

注記

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB18757237
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Washington
• ページ数/冊数: vi, 83 p.
• 大きさ: 26 cm
• 親書誌ID:
  • BA0011083X