超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

Author(s)

• 谷口, 研二 タニグチ, ケンジ

Bibliographic Information

超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

研究代表者 谷口研二

（科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書, ; 平成2年度）

大阪大学工学部, 1991.3

Title Transcription

チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ

Note

[課題番号]: 01550248

Details

• NCID: BB23090943
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: [吹田]
• Pages/Volumes: 1 冊
• Size: 26 cm
• Parent Bibliography ID:
  • BN03663735