光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

著者

• 渡辺, 巌

書誌事項

光電子収率XAFS法による溶液表面の構造解析

研究代表者 渡辺巌

（科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書, ; 平成5年～6年度）

大阪大学理学部, 1995.3

タイトル読み

ヒカリ デンシ シュウリツ XAFSホウ ニ ヨル ヨウエキ ヒョウメン ノ コウゾウ カイセキ

注記

[課題番号]: 05453057

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB24168456
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [豊中]
• ページ数/冊数: 1 冊
• 大きさ: 30 cm
• 親書誌ID:
  • BN0345591X