ICDS-23 : proceedings of the 23rd International Conference on Defects in Semiconductors, held in Awaji Island, Japan, 24-29 July 2005

著者

• International Conference on Defects in Semiconductors
• 押山, 淳 オシヤマ, アツシ
• 前田, 康二 マエダ, コウジ
• 伊藤, 公平 イトウ, コウヘイ
• 吉田, 博 ヨシダ, ヒロシ

書誌事項

ICDS-23 : proceedings of the 23rd International Conference on Defects in Semiconductors, held in Awaji Island, Japan, 24-29 July 2005

guest editors, A. Oshiyama...[et al.]

（Physica. B. Condensed matter, v. 376-377）

Elsevier, c2006

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB25714507
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [Amsterdam], The Netherlands
• ページ数/冊数: xxiii, 987 p.
• 大きさ: 28 cm
• 親書誌ID:
  • BA10318881