2017 IEEE International Test Conference : (ITC 2017) : Forth [i.e. Fort] Worth, Texas, USA 31 October-2 November 2017

書誌事項

2017 IEEE International Test Conference : (ITC 2017) : Forth [i.e. Fort] Worth, Texas, USA 31 October-2 November 2017

IEEE, c2017

タイトル別名

CFP17ITC-POD

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注記

"IEEE catalog number: CFP17ITC-POD"

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB25958578
  • ISBN
    • 9781538634141
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, NJ
  • ページ数/冊数
    485 p.
  • 大きさ
    28 cm
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