陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

著者

    • 福島, 博 フクシマ, ヒロシ

書誌事項

陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

研究代表者 福島博

(科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成10年度~平成11年度)

[福島博], 2000.11

タイトル読み

ヨウデンシ ジュミョウ ソクテイ ト トウカ デンシ ケンビキョウ ニヨル キョクビショウテン ケッカン シュウゴウタイ ノ コウゾウ ト カタ ノ ハンテイ

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注記

課題番号:10650650

研究代表者: 福島博(広島大学工学部助教授)

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB29113688
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpneng
  • 出版地
    [東広島]
  • ページ数/冊数
    68p
  • 大きさ
    30cm
  • 親書誌ID
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