陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

Author(s)

    • 福島, 博 フクシマ, ヒロシ

Bibliographic Information

陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定

研究代表者 福島博

（科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成10年度～平成11年度）

[福島博], 2000.11

Title Transcription

ヨウデンシ ジュミョウ ソクテイ ト トウカ デンシ ケンビキョウ ニヨル キョクビショウテン ケッカン シュウゴウタイ ノ コウゾウ ト カタ ノ ハンテイ

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Note

課題番号:10650650

研究代表者: 福島博(広島大学工学部助教授)

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Details

  • NCID
    BB29113688
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpneng
  • Place of Publication
    [東広島]
  • Pages/Volumes
    68p
  • Size
    30cm
  • Parent Bibliography ID
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