陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定
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陽電子寿命測定と透過電子顕微鏡による極微小点欠陥集合体の構造と型の判定
(科学研究費補助金基盤研究(C)(2)研究成果報告書, 平成10年度~平成11年度)
[福島博], 2000.11
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ヨウデンシ ジュミョウ ソクテイ ト トウカ デンシ ケンビキョウ ニヨル キョクビショウテン ケッカン シュウゴウタイ ノ コウゾウ ト カタ ノ ハンテイ
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注記
課題番号:10650650
研究代表者: 福島博(広島大学工学部助教授)