書誌事項

信頼性試験技術

益田昭彦編著 ; 鈴木和幸 [ほか] 著

(信頼性技術叢書)

日科技連出版社, 2019.12

タイトル読み

シンライセイ シケン ギジュツ

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注記

監修: 信頼性技術叢書編集委員会

参考文献: 各章末

その他の著者: 原田文明, 山悟, 横川慎二

内容説明・目次

内容説明

本書は、信頼性・安全性トラブルの未然防止に役立つ、信頼性試験の最新の実践的な技術や理論について、多くの図表を用いてわかりやすく解説するものである。全9章で構成。第1章から第3章では、基本となる信頼性工学の知識や故障解析、信頼性データ解析について解説。また第4章で、信頼性試験の概要と全体像を紹介している。第5章から第7章では、信頼性試験技術特有の知識や技術である、加速試験、信頼性抜取試験、信頼性スクリーニングと信頼性成長試験についてそれぞれ解説。第8章は信頼性試験に関する最新の研究成果を紹介するもので、単行本で取り上げるのは本書が初となる内容である。信頼性試験において新しい問題に直面した場合に、数理的に解決を図るうえで参考となる。また、第9章に著者らの実務経験に基づいて整理した、信頼性試験を進める際の留意事項をまとめている。

目次

  • 第1章 信頼性の基礎
  • 第2章 故障物理モデルと故障解析
  • 第3章 信頼性データ解析の要点
  • 第4章 信頼性試験の概念と進め方
  • 第5章 加速試験
  • 第6章 信頼性抜取試験
  • 第7章 信頼性スクリーニングと信頼度成長試験
  • 第8章 信頼性試験のフロンティア
  • 第9章 信頼性試験運用上の留意点

「BOOKデータベース」 より

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BB29621113
  • ISBN
    • 9784817196866
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    ix, 261p
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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