横川, 慎二 ヨコガワ, シンジ

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  • 信頼性試験技術

    益田昭彦編著 ; 鈴木和幸 [ほか] 著

    日科技連出版社 2019.12 信頼性技術叢書

    所蔵館28館

  • LSIの信頼性

    二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著

    日科技連出版社 2010.10 信頼性技術叢書

    所蔵館44館

  • 信頼性データ解析

    鈴木和幸編著 ; 益田昭彦, 石田勉, 横川慎二著

    日科技連出版社 2009.11 信頼性技術叢書

    所蔵館74館

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