物質・材料研究のための透過電子顕微鏡
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物質・材料研究のための透過電子顕微鏡
講談社, 2020.7
- タイトル別名
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Transmission Electron Microscope for Materials Research
透過電子顕微鏡 : 物質・材料研究のための
物質材料研究のための透過電子顕微鏡
- タイトル読み
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ブッシツ ザイリョウ ケンキュウ ノ タメ ノ トウカ デンシ ケンビキョウ
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注記
結晶構造分析・元素分析・化学結合状態解析などを原子レベルで行うことができる透過電子顕微鏡法(TEM)。電子回折法、走査透過電子顕微鏡法、電子エネルギー損失分光法等、TEMのさまざまな計測手法を詳しく解説する。
その他の著者: 三石和貴, 三留正則, 原徹, 長井拓郎
編集: 講談社サイエンティフィク
引用文献、参考書・参考文献: 章末
内容説明・目次
目次
- 第１章 概論
- 第２章 ハードウエア
- 第３章 電子回折法
- 第４章 回折コントラスト像
- 第５章 高分解能透過電子顕微鏡像観察
- 第６章 走査透過電子顕微鏡法
- 第７章 エネルギー分散型Ｘ線分光法
- 第８章 電子エネルギー損失分光法
- 第９章 ローレンツ顕微鏡法
- 第１０章 試料作製
「BOOKデータベース」 より