機器分析ハンドブック
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機器分析ハンドブック
化学同人, 2021.3
- 3 固体・表面分析編
- Other Title
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Handbook of instrumental analysis
固体表面分析編
- Title Transcription
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キキ ブンセキ ハンドブック
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固体・表面分析編 / 宗林由樹[ほか]編
BC10924478
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固体・表面分析編 / 宗林由樹[ほか]編
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Okayama University Institute of Plant Science and Resources Branch Library植物研図
3 固体・表面分析編155/215205000223634
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Faculty of Textile Science and Technology Library, Shinshu University図
3 固体・表面分析編433:Ki 22:32810383725
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Chiba Prefectural University of Health Sciences Makuhari Campus Library
3 固体・表面分析編433||Ki22||340027689
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University Library for Agricultural and Life Sciences, The University of Tokyo図
433:Ki22:35011275459
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Tokyo Metropolitan College of Industrial Thechnology Shinagawa Library
3 固体・表面分析編433||Ki22||3800056483
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Institute of Materials and Systems for Sustainability, Nagoya University未来材料研
3 固体・表面分析編433||Ki12164880
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Hokkaido University, Faculty and Graduate School of Engineering図書
3 固体・表面分析編543/KIK/33580338024
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Hokkaido University, Library, Graduate School of Science, Faculty of Science and School of Science図書
3 固体・表面分析編543/KIK/32080479901
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Note
固体・表面分析編の編者: 宗林由樹, 辻幸一, 藤原学, 南秀明
参考文献あり
索引: p191-196
Description and Table of Contents
Table of Contents
- 熱分析
- 試料準備（固体試料の溶解；分離操作）
- 原子吸光分析法
- 誘導結合プラズマ発光分析法（ＩＣＰ‐ＯＥＳ）・質量分析法（ＩＣＰ‐ＭＳ）
- 蛍光Ｘ線分析法
- Ｘ線回折法
- Ｘ線光電子分光法
- 光学顕微鏡
- 電子顕微鏡（ＴＥＭ、ＳＥＭ、ＥＰＭＡ）
- プローブ顕微鏡
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