Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

書誌事項

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer

(Springer series in optical sciences, v. 45)

Springer, c1998

2nd completely rev. and updated ed

  • : pbk

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注記

"With 260 figures"

"Softcover reprint of the hardcover 2nd edition 1998"--t.p. verso

References: p. [449]-514

Index: p. [515]-527

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BC18879843
  • ISBN
    • 9783642083723
  • 出版国コード
    gw
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Berlin
  • ページ数/冊数
    xiv, 527 p.
  • 大きさ
    24 cm
  • 分類
  • 親書誌ID
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