心理テストの確率モデル

著者

• Rasch, G. (Georg)
• 内田, 良男 ウチダ, ヨシオ

書誌事項

心理テストの確率モデル

ゲオルク・ラッシュ著 ; 内田良男監訳

名古屋大学出版会, 1985.8

タイトル別名

Probabilistic models for some intelligence and attainment tests

タイトル読み

シンリ テスト ノ カクリツ モデル

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• 心理テストの確率モデル

  1985

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

注記

著者の肖像あり

文献: p229-231

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN00541130
• ISBN:
  • 493068935X
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 原本言語コード: eng
• 出版地: 名古屋
• ページ数/冊数: xxviii, 237p, 図版 [1] p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 140.7
  • NDLC : SB31
• 件名:
  • NDLSH : 精神測定