電子部品の信頼性試験

著者

• 越川, 清重 エチカワ, キヨシゲ
• 三根, 久 ミネ, ヒサシ

書誌事項

電子部品の信頼性試験

越川清重著

日科技連出版社, 1985.10

タイトル読み

デンシ ブヒン ノ シンライセイ シケン

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• 電子部品の信頼性試験

  1985

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

注記

監修:三根久

参考文献:p247〜253

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN01152837
• ISBN:
  • 4817130164
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 259p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549
  • NDLC : ND354
• 件名:
  • NDLSH : 電子部品
  • NDLSH : 信頼性(工学)