シリコンの物性と評価法

著者

• 小間, 篤 コマ, アツシ

書誌事項

シリコンの物性と評価法

小間篤 [ほか] 共著

（電子材料シリーズ）

丸善, 1987.7

タイトル読み

シリコン ノ ブッセイ ト ヒョウカホウ

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• シリコンの物性と評価法

  1987

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

注記

文献: 章末

参考書: p[243]〜244

その他の共著者: 白木靖寛, 齋木幸一郎, 飯田厚夫

内容説明・目次

内容説明

２０世紀を象徴する物質、それは粉れもなくシリコンだと言うことができよう。本書は、この恵まれた資質を持つ魅力的な物質シリコンに興味を抱き、それを理解し、使いこなそうという人達のために書かれたものである。実際に、材料について悩み、発展に努力している方々によって書かれているので読者は、問題解決のための指針を得ると同時に、単に解説には終らない、材料に対する著者らの熱い思いも感じとれるであろう。

目次

• １　物性（シリコン結晶と格子欠陥；シリコンの電子物性；表面と界面）
• ２　評価法（結晶の完全性の評価；微量不純物の分析；電気特性の評価；表面・界面の評価）

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BN01165985
• ISBN:
  • 4621031856
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: x, 251p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
  • NDLC : ND371
• 件名:
  • BSH : シリコン
• 親書誌ID:
  • BN00201165