材料の評価システム

著者

• 岸, 輝雄 キシ, テルオ

書誌事項

材料の評価システム

岸輝雄 [ほか] 著

（材料テクノロジー / 堂山昌男, 山本良一編, 8）

東京大学出版会, 1987.7

タイトル読み

ザイリョウ ノ ヒョウカ システム

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• 材料の評価システム

  1987

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

内容説明・目次

目次

• １．　材料のその場評価手法（電子線回折による材料評価；オージェ電子分光による材料評価；エネルギー損失分光による材料評価）
• ２．　半導体材料プロセスの評価法（半導体材料プロセスとデバイス製作；接合容量による評価；イオン注入層の評価）
• ３．　力学的性質評価法（従来の材料試験法と破壊力学的試験法；引張試験、圧縮試験；曲げ試験、抗折試験　ほか）
• ４．　非破壊評価法（超音波探傷試験；放射線透過試験；磁粉探傷試験；浸透探傷試験；電磁誘導試験）
• ５．　アコースティックエミッションによる材料評価法（ＡＥの原理；ＡＥ計測システム；ＡＥ信号処理パラメータの意味；ＡＥの発生機構；破壊のＡＥ　ほか）

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN01194768
• ISBN:
  • 4130641581
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 199p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 501.4
  • NDC8 : 501.5
  • NDLC : M215
• 件名:
  • BSH : 工業材料
  • NDLSH : 材料試験
• 親書誌ID:
  • BN00130307