材料の評価システム
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材料の評価システム
(材料テクノロジー / 堂山昌男, 山本良一編, 8)
東京大学出版会, 1987.7
- タイトル読み
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ザイリョウ ノ ヒョウカ システム
電子リソースにアクセスする 全1件
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材料の評価システム
1987
限定公開 -
材料の評価システム
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501.4||D89||8000024042,
501.4||D89||8000158311, 501.4||D89||8000158378, 501.4||D89||8000158337, 501.4||D89||800002404, 501.4||D89||800015831, 501.4||D89||800015833, 501.4||D89||800064362, 501.4||D89||800015832 -
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内容説明・目次
目次
- 1. 材料のその場評価手法(電子線回折による材料評価;オージェ電子分光による材料評価;エネルギー損失分光による材料評価)
- 2. 半導体材料プロセスの評価法(半導体材料プロセスとデバイス製作;接合容量による評価;イオン注入層の評価)
- 3. 力学的性質評価法(従来の材料試験法と破壊力学的試験法;引張試験、圧縮試験;曲げ試験、抗折試験 ほか)
- 4. 非破壊評価法(超音波探傷試験;放射線透過試験;磁粉探傷試験;浸透探傷試験;電磁誘導試験)
- 5. アコースティックエミッションによる材料評価法(AEの原理;AE計測システム;AE信号処理パラメータの意味;AEの発生機構;破壊のAE ほか)
「BOOKデータベース」 より