材料の評価システム
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材料の評価システム
（材料テクノロジー / 堂山昌男, 山本良一編, 8）
東京大学出版会, 1987.7
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ザイリョウ ノ ヒョウカ システム
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材料の評価システム
1987
Limited -
材料の評価システム
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Kochi University of Technology.Library
501.4||D89||8000024042,
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Faculty of Textile Science and Technology Library, Shinshu University図
501.4:Z12810027298,2870570286
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Description and Table of Contents
Table of Contents
- １． 材料のその場評価手法（電子線回折による材料評価；オージェ電子分光による材料評価；エネルギー損失分光による材料評価）
- ２． 半導体材料プロセスの評価法（半導体材料プロセスとデバイス製作；接合容量による評価；イオン注入層の評価）
- ３． 力学的性質評価法（従来の材料試験法と破壊力学的試験法；引張試験、圧縮試験；曲げ試験、抗折試験 ほか）
- ４． 非破壊評価法（超音波探傷試験；放射線透過試験；磁粉探傷試験；浸透探傷試験；電磁誘導試験）
- ５． アコースティックエミッションによる材料評価法（ＡＥの原理；ＡＥ計測システム；ＡＥ信号処理パラメータの意味；ＡＥの発生機構；破壊のＡＥ ほか）
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