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材料の評価システム

岸輝雄 [ほか] 著

(材料テクノロジー / 堂山昌男, 山本良一編, 8)

東京大学出版会, 1987.7

タイトル読み

ザイリョウ ノ ヒョウカ システム

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内容説明・目次

目次

  • 1. 材料のその場評価手法(電子線回折による材料評価;オージェ電子分光による材料評価;エネルギー損失分光による材料評価)
  • 2. 半導体材料プロセスの評価法(半導体材料プロセスとデバイス製作;接合容量による評価;イオン注入層の評価)
  • 3. 力学的性質評価法(従来の材料試験法と破壊力学的試験法;引張試験、圧縮試験;曲げ試験、抗折試験 ほか)
  • 4. 非破壊評価法(超音波探傷試験;放射線透過試験;磁粉探傷試験;浸透探傷試験;電磁誘導試験)
  • 5. アコースティックエミッションによる材料評価法(AEの原理;AE計測システム;AE信号処理パラメータの意味;AEの発生機構;破壊のAE ほか)

「BOOKデータベース」 より

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BN01194768
  • ISBN
    • 4130641581
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    199p
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
  • 親書誌ID
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