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電気・電子部品の寿命診断

山村昌監修 ; 磯部昭二〔ほか〕編 ; 青戸武志[ほか]執筆

日本規格協会, 1989.2

タイトル読み

デンキ・デンシ ブヒン ノ ジュミョウ シンダン

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注記

各章末:引用・参考文献

内容説明・目次

内容説明

電気・電子製品の寿命は特に複雑である。機械的、熱的なストレスに電気的、磁気的なストレスが寿命を決める要因として加わるからである。製品の寿命を延伸するための研究は活発に行われている。しかし、製品やシステムについてその寿命を予測し、延伸を計ることはいまだ困難であって、製品やシステムの寿命の規格化は実施されていない。本書は、この難しい製品寿命の問題について、工学的・技術的側面から解説したもので、この分野で非常にユニークな図書である。

目次

  • 第1編 基礎編(部品の寿命設計;経年劣化要因;加速試験法;計測と寿命診断;故障解析)
  • 第2編 応用編(半導体;コンデンサ;変圧器;回転機;ケーブル;遮断器類;コネクタ・端子類;リレー類;抵抗体;実装回路類;センサ;照明器具;蓄電池)

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BN03508222
  • ISBN
    • 454233001X
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    382p
  • 大きさ
    22cm
  • 分類
  • 件名
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