デバイス・部品の故障解析

著者

• 二川, 清 ニカワ, キヨシ

書誌事項

デバイス・部品の故障解析

二川清[ほか]著

（信頼性110番シリーズ, 1）

日科技連出版社, 1992.9

タイトル読み

デバイス ブヒン ノ コショウ カイセキ

内容説明・目次

目次

• 第１章　故障解析を始めるにあたって
• 第２章　故障解析の手順
• 第３章　故障解析技術（手法・装置）
• 第４章　故障メカニズム
• 第５章　その他のノウハウ

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN08119512
• ISBN:
  • 481713027X
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: x, 127p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
• 件名:
  • BSH : 半導体
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
• 親書誌ID:
  • BN08119658