走査型電子顕微鏡による溶接部破壊面のフラクトグラフィ集

著者

• 松田, 福久 マツダ, フクヒサ
• 中川, 博二 ナカガワ, ヒロジ

書誌事項

走査型電子顕微鏡による溶接部破壊面のフラクトグラフィ集

松田福久,中川博二著

黒木出版社, 1979.12

• 標準破面編

タイトル読み

ソウサガタ デンシ ケンビキョウ ニ ヨル ヨウセツブ ハカイメン ノ フラクトグラフィシュウ

注記

参考文献:p16

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN11712687
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 大阪
• ページ数/冊数: 301p
• 大きさ: 31cm
• 分類:
  • NDC8 : 566.6
  • NDLC : PD51
  • NDLC : M215
• 件名:
  • NDLSH : 溶接
  • NDLSH : 材料試験