LSIの信頼性

著者

• 二川, 清 ニカワ, キヨシ
• 塩野, 登 シオノ, ノボル
• 横川, 慎二 ヨコガワ, シンジ
• 福田, 保裕 フクダ, ヤスヒロ
• 三井, 泰裕 ミツイ, ヤスヒロ
• 信頼性技術叢書編集委員会 シンライセイ ギジュツ ソウショ ヘンシュウ イインカイ

書誌事項

LSIの信頼性

二川清編著 ; 塩野登 [ほか] 著

（信頼性技術叢書）

日科技連出版社, 2010.10

タイトル別名

LSIの信頼性

タイトル読み

LSI ノ シンライセイ

注記

その他の著者: 横川慎二, 福田保裕, 三井泰裕

監修者: 信頼性技術叢書編集委員会

参考文献: 章末

内容説明・目次

目次

• 第１章　ＬＳＩ信頼性保証概論
• 第２章　トランジスタ系の信頼性
• 第３章　ＬＳＩ配線の信頼性
• 第４章　静電気破壊現象
• 第５章　故障解析
• 第６章　寿命データ解析

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB03841227
• ISBN:
  • 9784817193636
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: viii, 183p, 図版 [2] p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.7
  • NDC9 : 549.7
• 件名:
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
  • NDLSH : 大規模集積回路
• 親書誌ID:
  • BA87180302