X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960)

著者

• International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis
• Engström, Arne
• Cosslett, V.
• Pattee, H.

書誌事項

X-ray microscopy and X-ray microanalysis : proceedings of the Second International Symposium (Stockholm, 1960)

edited by A. Engström, V. Cosslett, H. Pattee

Elsevier, 1960

タイトル別名

X-Ray microscopy and microanalysis

注記

Papers in English, German, or French

Includes bibliographies

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA06274556
• LCCN: 60012354
• 出版国コード: ne
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: enggerfre
• 出版地: Amsterdam ; New York
• ページ数/冊数: x, 542 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC373.X2
  • DC : 537.5352
• 件名:
  • LCSH : X-ray microscope -- Congresses
  • LCSH : Microradiography -- Congresses