Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography

著者

• Parrish, William

書誌事項

Advances in X-ray diffractometry and X-ray spectrography

edited by William Parrish

Centrex, 1962

注記

A volume of fifteen selected reprints from Philips Laboratories Irvington-on-Hudson, New York, U.S.A.

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA22148257
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Eindhoven
• ページ数/冊数: xv, 233 p.
• 大きさ: 24 cm