Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

著者

• Reimer, Ludwig

書誌事項

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis

Ludwig Reimer

（Springer series in optical sciences, v. 45）

Springer, c1998

2nd completely revised and updated ed

• : hardcover

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA37992011
• ISBN:
  • 3540639764
• LCCN: 98026178
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin ; Tokyo
• ページ数/冊数: xiv, 527 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.S3
  • DC21 : 502/.8/25
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscopy
• 親書誌ID:
  • BA00063354