Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

著者

• Bushnell, Michael L. (Michael Lee)
• Agrawal, Vishwani D.

書誌事項

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits

Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal

（Frontiers in electronic testing）

Kluwer Academic, c2000

注記

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA50218474
• ISBN:
  • 0792379918
• LCCN: 00046212
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston, MA
• ページ数/冊数: xviii, 690 p.
• 大きさ: 26 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874.75
  • DC21 : 621.39/5
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration -- Testing
  • LCSH : Digital integrated circuits -- Testing
  • LCSH : Mixed signal circuits -- Testing
  • LCSH : Semiconductor storage devices -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA19587827