Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination

著者

• 早稲田, 嘉夫 ワセダ, ヨシオ

書誌事項

Anomalous X-ray scattering for materials characterization : atomic-scale structure determination

Yoshio Waseda

（Springer tracts in modern physics : Ergebnisse der exakten Naturwissenschaften / editor, G. Höhler, v. 179）（Physics and astronomy online library）

Springer, c2002

注記

"with 132 figures"

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA58657536
• ISBN:
  • 9783540434436
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin
• ページ数/冊数: xiii, 214 p.
• 大きさ: 24 cm
• 親書誌ID:
  • BA0027486X
  • BA48464922