Power-constrained testing of VLSI circuits

著者

    • Nicolici, Nicola
    • Al-Hashimi, Bashir

書誌事項

Power-constrained testing of VLSI circuits

by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi

(Frontiers in electronic testing, 22)

Kluwer Academic, c2003

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注記

Includes bibliographical references(p. 163- 173) and index

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