Power-constrained testing of VLSI circuits

著者

• Nicolici, Nicola
• Al-Hashimi, Bashir

書誌事項

Power-constrained testing of VLSI circuits

by Nicola Nicolici and Bashir M. Al-Hashimi

（Frontiers in electronic testing, 22）

Kluwer Academic, c2003

注記

Includes bibliographical references(p. 163- 173) and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA61930451
• ISBN:
  • 140207235X
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boston ; London
• ページ数/冊数: xi, 178 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874.75 .N53
  • DC21 : 621.3950287
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration
  • LCSH : Integrated circuits -- Very large scale integration
  • LCSH : Semiconductors -- Thermal properties
• 親書誌ID:
  • BA19587827