端子部ソルティングのNi-Cd電池のサイクル性能への影響:試験結果

Author(s)

• 宇宙航空研究開発機構 ウチュウ コウクウ ケンキュウ カイハツ キコウ
• 艸分, 宏昌 クサワケ, ヒロマサ

Bibliographic Information

端子部ソルティングのNi-Cd電池のサイクル性能への影響:試験結果

宇宙航空研究開発機構編 ; 艸分宏昌,技術研究本部搭載電源技術グループ[著]

（宇宙航空研究開発機構研究開発資料, JAXA-RM-03-023）

宇宙航空研究開発機構, 2004.3

Other Title

Test result : Effect of salting at cell terminals on cycle performance in NI-Cd cell

Title Transcription

タンシブ ソルティング ノ Ni-Cd デンチ ノ サイクル セイノウ エノ エイキョウ シケン ケッカ

Details

• NCID: BA70456894
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 調布
• Pages/Volumes: 5p
• Size: 30cm
• Classification:
  • NDLC : Y251
• Parent Bibliography ID:
  • BA69053154