端子部ソルティングのNi-Cd電池のサイクル性能への影響:試験結果

著者

• 宇宙航空研究開発機構 ウチュウ コウクウ ケンキュウ カイハツ キコウ
• 艸分, 宏昌 クサワケ, ヒロマサ

書誌事項

端子部ソルティングのNi-Cd電池のサイクル性能への影響:試験結果

宇宙航空研究開発機構編 ; 艸分宏昌,技術研究本部搭載電源技術グループ[著]

（宇宙航空研究開発機構研究開発資料, JAXA-RM-03-023）

宇宙航空研究開発機構, 2004.3

タイトル別名

Test result : Effect of salting at cell terminals on cycle performance in NI-Cd cell

タイトル読み

タンシブ ソルティング ノ Ni-Cd デンチ ノ サイクル セイノウ エノ エイキョウ シケン ケッカ

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA70456894
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 調布
• ページ数/冊数: 5p
• 大きさ: 30cm
• 分類:
  • NDLC : Y251
• 親書誌ID:
  • BA69053154